Le support CI tulipe rond est conçu pour accueillir des circuits intégrés (CI) dans des montages électroniques tout en assurant une connexion fiable et durable. Ce type de support utilise des broches en forme de tulipe pour garantir un excellent contact électrique avec les broches des circuits intégrés, tout en facilitant le remplacement ou le retrait du CI sans endommager les composants ou la carte.
Caractéristiques principales :
- Nombre de contacts : Disponible en plusieurs configurations (8P, 14P, 16P, 18P, 28P).
- MIL : 600, respectant les standards militaires pour la qualité des connexions.
- Dimensions standard DIL : Compatible avec les circuits intégrés au format DIL (Dual In-Line).
- Cycle d’opération : Supporte plus de 100 cycles d’insertion et de retrait.
- Courant maximal par contact : 1A, offrant une capacité de charge adéquate pour la plupart des applications.
- Résistance de contact : ≤ 10 mΩ, garantissant une faible résistance pour une bonne conductivité.
- Résistance d’isolation : ≥ 10000 MΩ, assurant une isolation optimale entre les contacts.
- Tension d’essai : ≥ 1000V, pour garantir la sécurité et la durabilité dans les environnements de haute tension.
- Température de fonctionnement : De -55°C à +125°C, permettant une utilisation dans des environnements extrêmes.
- Discontinuité électrique : ≤ 1 µs, garantissant des performances fiables sans interruption.
- Matériau isolant : Polyester auto-extinguible renforcé à la fibre de verre, conforme à la norme UL94-VO pour la sécurité incendie.
Applications :
- Projets électroniques : Utilisé dans les circuits imprimés pour insérer et retirer facilement les circuits intégrés.
- Prototypage : Idéal pour des environnements de développement où les composants sont souvent remplacés.
- Réparations électroniques : Permet de remplacer facilement des CI défectueux sans besoin de dessouder.
Ce support CI tulipe rond est parfait pour protéger vos circuits intégrés tout en offrant des connexions durables et fiables, avec une compatibilité pour de nombreuses configurations de CI.
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